論文の概要: Deep Learning Algorithm for Advanced Level-3 Inverse-Modeling of
Silicon-Carbide Power MOSFET Devices
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2310.17657v1
- Date: Mon, 16 Oct 2023 08:07:40 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-11-05 14:13:30.682247
- Title: Deep Learning Algorithm for Advanced Level-3 Inverse-Modeling of
Silicon-Carbide Power MOSFET Devices
- Title(参考訳): シリコン炭化物パワーMOSFETデバイスの高次レベル3逆モデリングのためのディープラーニングアルゴリズム
- Authors: Massimo Orazio Spata, Sebastiano Battiato, Alessandro Ortis, Francesco
Rundo, Michele Calabretta, Carmelo Pino, Angelo Messina
- Abstract要約: 逆デバイスモデリングは、時間的に劣化したデバイスのドリフト物理パラメータを再構築したり、物理的構成を検索するのに適している。
SiCパワーデバイスのキーとなる応用は自動車分野である。
本研究の目的は、SiC Powerの物理パラメータを取得するためのディープラーニングベースのソリューションを提供することである。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 43.99494688206196
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Inverse modelling with deep learning algorithms involves training deep
architecture to predict device's parameters from its static behaviour. Inverse
device modelling is suitable to reconstruct drifted physical parameters of
devices temporally degraded or to retrieve physical configuration. There are
many variables that can influence the performance of an inverse modelling
method. In this work the authors propose a deep learning method trained for
retrieving physical parameters of Level-3 model of Power Silicon-Carbide MOSFET
(SiC Power MOS). The SiC devices are used in applications where classical
silicon devices failed due to high-temperature or high switching capability.
The key application of SiC power devices is in the automotive field (i.e. in
the field of electrical vehicles). Due to physiological degradation or
high-stressing environment, SiC Power MOS shows a significant drift of physical
parameters which can be monitored by using inverse modelling. The aim of this
work is to provide a possible deep learning-based solution for retrieving
physical parameters of the SiC Power MOSFET. Preliminary results based on the
retrieving of channel length of the device are reported. Channel length of
power MOSFET is a key parameter involved in the static and dynamic behaviour of
the device. The experimental results reported in this work confirmed the
effectiveness of a multi-layer perceptron designed to retrieve this parameter.
- Abstract(参考訳): ディープラーニングアルゴリズムによる逆モデリングは、静的な振る舞いからデバイスのパラメータを予測するためにディープアーキテクチャをトレーニングする。
逆デバイスモデリングは、時間的に劣化したデバイスのドリフト物理パラメータを再構築したり、物理的構成を検索するのに適している。
逆モデリング法の性能に影響を与える多くの変数がある。
本研究では,炭化ケイ素MOSFET(SiC Power MOS)のレベル3モデルの物理パラメータを取得するためのディープラーニング手法を提案する。
SiCデバイスは、高温または高スイッチング能力のために古典的なシリコンデバイスが故障したアプリケーションで使用される。
SiCパワーデバイスのキーとなる応用は、自動車分野(すなわち電気自動車分野)である。
生理的劣化や高ストレス環境のため, SiC Power MOS は逆モデリングを用いて観測できる物理パラメータの顕著なドリフトを示す。
本研究の目的は,SiC Power MOSFETの物理パラメータを取得するためのディープラーニングベースのソリューションを提供することである。
装置のチャネル長の検索に基づく予備結果が報告される。
電力MOSFETのチャネル長は、デバイスの静的および動的動作に関わる重要なパラメータである。
本研究で報告した実験結果から, このパラメータを回収する多層パーセプトロンの有効性が確認された。
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