論文の概要: In-situ characterization of optical micro/nano fibers using scattering loss analysis

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2402.03400v1
• Date: Mon, 5 Feb 2024 08:06:02 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2024-02-07 18:38:33.123086
• Title: In-situ characterization of optical micro/nano fibers using scattering loss analysis
• Title（参考訳）: 散乱損失解析を用いた光マイクロナノファイバーのその場評価
• Authors: Shashank Suman, Elaganuru Bashaiah, Resmi M, and Ramachandrarao Yalla
• Abstract要約: 光学マイクロナノファイバー(MNF)のその場特性を実験的に実証した。 MNFはマイクロファイバー(プローブファイバ、PF)上に配置され、様々なPFおよびTF径での散乱損失をシミュレーションする。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 6.948439210905343
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: We experimentally demonstrate the in-situ characterization of optical micro/nano fibers (MNFs).The MNF (test fiber, TF) is positioned on a microfiber (probe fiber, PF) and simulated for the scattering loss at various PF and TF diameters. The TF is fabricated using chemical etching technique. The PF is a conventional single-mode fiber with an outer diameter of 125 um. We measure the scattering loss along the TF axis at various positions i.e. diameters by mounting it on the PF. The diameter profile of the TF is inferred from the measured scattering loss and correlated with its surface morphology measurement. This work demonstrates an effective, low-cost, and non-destructive method for in-situ characterization of fabricated micro/nano fibers (OMNFs). It can detect and determine the irregularities on the surface of OMNFs. It can also be used to quantify the local evanescent field. Detecting such local points can improve studies that are carried out using these fields in various sensing and related study domains. It is simple to implement and can be accessed by all domains of researchers.
• Abstract（参考訳）: 光学マイクロナノファイバー(MNF)のその場特性を実験的に実証した。 MNF(試験繊維、TF)はマイクロファイバー(プローブ繊維、PF)上に配置され、様々なPFおよびTF径での散乱損失をシミュレーションする。 TFは化学エッチング技術を用いて製造される。 pfは従来の単モードファイバであり、外径125mmである。 TF軸沿いの散乱損失は,PF上に設置することで,様々な位置,すなわち直径で測定する。 測定された散乱損失からTFの直径分布を推定し,その表面形態測定と相関した。 本研究は、マイクロナノファイバー(OMNFs)のその場評価のための有効で低コストで非破壊的な方法を示す。 OMNFの表面の不規則性を検知し、決定することができる。 また、局所的エバネッセント場を定量化するためにも用いられる。 このような局所点の検出は、様々なセンシングおよび関連する研究領域においてこれらの分野を用いて行われる研究を改善することができる。 実装は簡単で、研究者のすべてのドメインからアクセスすることができる。

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