論文の概要: PA-CLIP: Enhancing Zero-Shot Anomaly Detection through Pseudo-Anomaly Awareness

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2503.01292v1
• Date: Mon, 03 Mar 2025 08:29:27 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-03-05 18:50:37.888916
• Title: PA-CLIP: Enhancing Zero-Shot Anomaly Detection through Pseudo-Anomaly Awareness
• Title（参考訳）: PA-CLIP:疑似異常認識によるゼロショット異常検出の促進
• Authors: Yurui Pan, Lidong Wang, Yuchao Chen, Wenbing Zhu, Bo Peng, Mingmin Chi,
• Abstract要約: 本稿では,背景雑音を低減し,擬似異常に基づくフレームワークによる欠陥検出を向上するゼロショット異常検出手法であるPA-CLIPを紹介する。 提案手法は,グローバルおよびローカルの詳細な情報を収集するためのマルチスケール特徴集約戦略を統合する。 既存のゼロショット法よりも優れており、工業的欠陥検出のための堅牢なソリューションを提供する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 10.364634539199422
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: In industrial anomaly detection (IAD), accurately identifying defects amidst diverse anomalies and under varying imaging conditions remains a significant challenge. Traditional approaches often struggle with high false-positive rates, frequently misclassifying normal shadows and surface deformations as defects, an issue that becomes particularly pronounced in products with complex and intricate surface features. To address these challenges, we introduce PA-CLIP, a zero-shot anomaly detection method that reduces background noise and enhances defect detection through a pseudo-anomaly-based framework. The proposed method integrates a multiscale feature aggregation strategy for capturing detailed global and local information, two memory banks for distinguishing background information, including normal patterns and pseudo-anomalies, from true anomaly features, and a decision-making module designed to minimize false positives caused by environmental variations while maintaining high defect sensitivity. Demonstrated on the MVTec AD and VisA datasets, PA-CLIP outperforms existing zero-shot methods, providing a robust solution for industrial defect detection.
• Abstract（参考訳）: 工業的異常検出(IAD)では、様々な異常と様々な画像条件下での欠陥を正確に識別することが大きな課題である。 伝統的なアプローチは、しばしば高い偽陽性率に悩まされ、しばしば通常の影と表面の変形を欠陥として誤分類する。 これらの課題に対処するために,背景雑音を低減し,疑似異常に基づくフレームワークによる欠陥検出を向上するゼロショット異常検出手法であるPA-CLIPを導入する。 提案手法は,詳細なグローバルおよびローカル情報を取得するためのマルチスケールな特徴集約戦略と,通常のパターンや擬似異常を含む背景情報を真の異常特徴と区別するための2つのメモリバンクと,高い欠陥感度を維持しつつ,環境変動による偽陽性を最小化するための意思決定モジュールを統合する。 MVTec ADとVisAデータセットで実証されたPA-CLIPは、既存のゼロショット法よりも優れ、産業的欠陥検出の堅牢なソリューションを提供する。

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