論文の概要: MultiADS: Defect-aware Supervision for Multi-type Anomaly Detection and Segmentation in Zero-Shot Learning

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2504.06740v1
• Date: Wed, 09 Apr 2025 09:52:04 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-04-10 13:06:19.809259
• Title: MultiADS: Defect-aware Supervision for Multi-type Anomaly Detection and Segmentation in Zero-Shot Learning
• Title（参考訳）: MultiADS:ゼロショット学習における多重型異常検出とセグメンテーションのためのデフェクト・アウェア・スーパービジョン
• Authors: Ylli Sadikaj, Hongkuan Zhou, Lavdim Halilaj, Stefan Schmid, Steffen Staab, Claudia Plant,
• Abstract要約: 曲がったり、切られたり、引っかいたりといった、異なるタイプの欠陥を知ることが重要です。 欠陥タイプ」を認識する能力は、現代の生産ラインにおける異常の自動処理を可能にする。 ゼロショット学習手法であるMultiADSを提案する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 27.235318937019255
• License:
• Abstract: Precise optical inspection in industrial applications is crucial for minimizing scrap rates and reducing the associated costs. Besides merely detecting if a product is anomalous or not, it is crucial to know the distinct type of defect, such as a bent, cut, or scratch. The ability to recognize the "exact" defect type enables automated treatments of the anomalies in modern production lines. Current methods are limited to solely detecting whether a product is defective or not without providing any insights on the defect type, nevertheless detecting and identifying multiple defects. We propose MultiADS, a zero-shot learning approach, able to perform Multi-type Anomaly Detection and Segmentation. The architecture of MultiADS comprises CLIP and extra linear layers to align the visual- and textual representation in a joint feature space. To the best of our knowledge, our proposal, is the first approach to perform a multi-type anomaly segmentation task in zero-shot learning. Contrary to the other baselines, our approach i) generates specific anomaly masks for each distinct defect type, ii) learns to distinguish defect types, and iii) simultaneously identifies multiple defect types present in an anomalous product. Additionally, our approach outperforms zero/few-shot learning SoTA methods on image-level and pixel-level anomaly detection and segmentation tasks on five commonly used datasets: MVTec-AD, Visa, MPDD, MAD and Real-IAD.
• Abstract（参考訳）: 産業応用における精密光学検査は, スクラップ率の最小化と関連するコストの削減に不可欠である。 製品が異常かどうかを単に検出するだけでなく、曲がったり、切れたり、引っかいたりといった、異なるタイプの欠陥を知ることが重要である。 欠陥タイプ」を認識する能力は、現代の生産ラインにおける異常の自動処理を可能にする。 現在の方法は、欠陥タイプに関する洞察を与えなくても、製品が欠陥であるかどうかのみを検出できるが、にもかかわらず、複数の欠陥を検出して識別する。 ゼロショット学習手法であるMultiADSを提案する。 MultiADSのアーキテクチャは、CLIPと余分な線形層からなり、共同機能空間における視覚的およびテキスト的表現を整列させる。 我々の知る限り,提案手法はゼロショット学習において,複数タイプの異常セグメンテーションタスクを実行するための最初のアプローチである。 他のベースラインとは対照的に、我々のアプローチ 一 個々の欠陥の種類ごとに特定の異常マスクを発生させること。 二 欠陥の種類を区別することを学び、 三 異常製品に存在する複数の欠陥タイプを同時に識別すること。 さらに,画像レベルおよび画素レベルの異常検出およびセグメンテーションタスク(MVTec-AD, Visa, MPDD, MAD, Real-IAD)では,ゼロ/ファウショット学習のSoTA法よりも優れていた。

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