論文の概要: Calibration-free single-frame super-resolution fluorescence microscopy
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2505.13293v1
- Date: Mon, 19 May 2025 16:14:45 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-05-20 14:57:11.724392
- Title: Calibration-free single-frame super-resolution fluorescence microscopy
- Title(参考訳): 校正不要単一フレーム超解像蛍光顕微鏡
- Authors: Anežka Dostálová, Dominik Vašinka, Robert Stárek, Miroslav Ježek,
- Abstract要約: 単一回折制限カメラフレームから直接超解像を再構成する深層学習手法を提案する。
150msの高密度テルリレン試料に適用し, 再建誤差を著しく低減した。
先行情報やキャリブレーションを使わずに、単一の短いカメラ露光から前例のない詳細情報を提供することで、プラグ&プレイによる超高解像度イメージングを可能にした。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Molecular fluorescence microscopy is a leading approach to super-resolution and nanoscale imaging in life and material sciences. However, super-resolution fluorescence microscopy is often bottlenecked by system-specific calibrations and long acquisitions of sparsely blinking molecules. We present a deep-learning approach that reconstructs super-resolved images directly from a single diffraction-limited camera frame. The model is trained exclusively on synthetic data encompassing a wide range of optical and sample parameters, enabling robust generalization across microscopes and experimental conditions. Applied to dense terrylene samples with 150 ms acquisition time, our method significantly reduces reconstruction error compared to Richardson-Lucy deconvolution and ThunderSTORM multi-emitter fitting. The results confirm the ability to resolve emitters separated by 35 nm at 580 nm wavelength, corresponding to sevenfold resolution improvement beyond the Rayleigh criterion. By delivering unprecedented details from a single short camera exposure without prior information and calibration, our approach enables plug-and-play super-resolution imaging of fast, dense, or light-sensitive samples on standard wide-field setups.
- Abstract(参考訳): 分子蛍光顕微鏡は、生命科学や物質科学における超高分解能およびナノスケールイメージングの先駆的なアプローチである。
しかし、超高分解能蛍光顕微鏡は、しばしばシステム固有のキャリブレーションと緩やかな点滅分子の長期取得によってボトルネックとなる。
単一回折制限カメラフレームから直接超解像を再構成する深層学習手法を提案する。
このモデルは、幅広い光学パラメータとサンプルパラメータを含む合成データにのみ訓練されており、顕微鏡と実験条件をまたいだ堅牢な一般化を可能にしている。
150msの高密度テルリレン試料に適用すると, リチャードソン・ルーシーの脱畳やサンダーストORMのマルチエミッタフィッティングと比較して, 再構成誤差を著しく低減できる。
その結果、レイリー基準を超える7倍の分解能向上に対応する35nmの波長で分離したエミッタを580nmで分解できることが確認された。
先行情報やキャリブレーションのない単一短距離カメラ露光から前例のない詳細情報を提供することで、標準的な広視野装置で高速、高密度、光感受性の試料をプラグアンドプレイで超高解像度で撮像することができる。
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