論文の概要: Overcoming Data Scarcity in Scanning Tunnelling Microscopy Image Segmentation
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2506.01678v1
- Date: Mon, 02 Jun 2025 13:47:37 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-06-04 21:47:34.41407
- Title: Overcoming Data Scarcity in Scanning Tunnelling Microscopy Image Segmentation
- Title(参考訳): 走査トンネル顕微鏡画像分割におけるデータスカシティの克服
- Authors: Nikola L. Kolev, Max Trouton, Filippo Federici Canova, Geoff Thornton, David Z. Gao, Neil J. Curson, Taylor J. Z. Stock,
- Abstract要約: 本稿では,数ショット学習と教師なし学習の両方を用いたSTM画像のセグメンテーションに対する自動アプローチを提案する。
3つの異なる表面における原子の特徴を認識するために,本手法の有効性を実証する。
この研究は、STM画像の効率的かつ物質に依存しない自動セグメンテーションに向けた重要なステップである。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Scanning tunnelling microscopy (STM) is a powerful technique for imaging surfaces with atomic resolution, providing insight into physical and chemical processes at the level of single atoms and molecules. A regular task of STM image analysis is the identification and labelling of features of interest against a uniform background. Performing this manually is a labour-intensive task, requiring significant human effort. To reduce this burden, we propose an automated approach to the segmentation of STM images that uses both few-shot learning and unsupervised learning. Our technique offers greater flexibility compared to previous supervised methods; it removes the requirement for large manually annotated datasets and is thus easier to adapt to an unseen surface while still maintaining a high accuracy. We demonstrate the effectiveness of our approach by using it to recognise atomic features on three distinct surfaces: Si(001), Ge(001), and TiO$_2$(110), including adsorbed AsH$_3$ molecules on the silicon and germanium surfaces. Our model exhibits strong generalisation capabilities, and following initial training, can be adapted to unseen surfaces with as few as one additional labelled data point. This work is a significant step towards efficient and material-agnostic, automatic segmentation of STM images.
- Abstract(参考訳): 走査型トンネル顕微鏡(STM)は、原子分解能で表面をイメージングする強力な技術であり、単一原子や分子のレベルでの物理的および化学的過程の洞察を提供する。
STM画像解析の通常の課題は、一様背景に対する特徴の識別とラベル付けである。
これを手作業で行うことは労働集約的な作業であり、かなりの人的努力を要する。
この負担を軽減するために,数発の学習と教師なし学習の両方を用いたSTM画像のセグメンテーションへの自動アプローチを提案する。
提案手法は従来の教師付き手法に比べて柔軟性が高く,手動で注釈付けした大規模なデータセットの要求を排除し,高い精度を維持しつつ,目に見えない面に適応しやすくする。
シリコンおよびゲルマニウム表面に吸着したAsH$_3$分子を含むSi(001), Ge(001), TiO$_2$(110) の3つの異なる表面における原子的特徴を認識するために, 本手法の有効性を示す。
我々のモデルは強力な一般化能力を示し、初期訓練の後、ラベル付きデータポイントを1つ加えるだけで、目に見えない面に適応できる。
この研究は、STM画像の効率的かつ物質に依存しない自動セグメンテーションに向けた重要なステップである。
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