論文の概要: Embedding-Enhanced Probabilistic Modeling of Ferroelectric Field Effect Transistors (FeFETs)
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2508.02737v1
- Date: Sat, 02 Aug 2025 03:20:31 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-08-06 18:18:55.593677
- Title: Embedding-Enhanced Probabilistic Modeling of Ferroelectric Field Effect Transistors (FeFETs)
- Title(参考訳): 強誘電体効果トランジスタ(FeFET)の埋め込み強化確率モデル
- Authors: Tasnia Nobi Afee, Jack Hutchins, Md Mazharul Islam, Thomas Kampfe, Ahmedullah Aziz,
- Abstract要約: FeFETはメモリとロジック技術の進歩に強い可能性を秘めているが、その固有のランダム性は正確で信頼性の高いモデリングに重大な課題をもたらす。
既存の決定論的および機械学習ベースのコンパクトモデルは、しばしばこの変動の完全な範囲を捉えない。
本稿では,これらの制約に対処するFeFETの確率的モデリングフレームワークについて述べる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.46603287532620735
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: FeFETs hold strong potential for advancing memory and logic technologies, but their inherent randomness arising from both operational cycling and fabrication variability poses significant challenges for accurate and reliable modeling. Capturing this variability is critical, as it enables designers to predict behavior, optimize performance, and ensure reliability and robustness against variations in manufacturing and operating conditions. Existing deterministic and machine learning-based compact models often fail to capture the full extent of this variability or lack the mathematical smoothness required for stable circuit-level integration. In this work, we present an enhanced probabilistic modeling framework for FeFETs that addresses these limitations. Building upon a Mixture Density Network (MDN) foundation, our approach integrates C-infinity continuous activation functions for smooth, stable learning and a device-specific embedding layer to capture intrinsic physical variability across devices. Sampling from the learned embedding distribution enables the generation of synthetic device instances for variability-aware simulation. With an R2 of 0.92, the model demonstrates high accuracy in capturing the variability of FeFET current behavior. Altogether, this framework provides a scalable, data-driven solution for modeling the full stochastic behavior of FeFETs and offers a strong foundation for future compact model development and circuit simulation integration.
- Abstract(参考訳): FeFETは、メモリとロジック技術の進歩に強い可能性を秘めているが、その固有のランダム性は、運用サイクルと製造変数の両方から生じるものであり、正確で信頼性の高いモデリングに重大な課題をもたらす。
設計者は振る舞いを予測し、性能を最適化し、製造条件や運転条件の変動に対して信頼性と堅牢性を確保することができる。
既存の決定論的および機械学習に基づくコンパクトモデルは、しばしばこの変数の完全な範囲を捉えたり、安定した回路レベルの積分に必要な数学的滑らかさを欠いている。
本稿では,これらの制約に対処するFeFETの確率的モデリングフレームワークについて述べる。
本手法は,Mixture Density Network (MDN) を基盤として,スムーズで安定な学習のためのC-infinity連続活性化関数と,デバイス固有の埋め込み層を統合し,デバイス間の固有の物理的変動を捉える。
学習した埋め込み分布からサンプリングすることで、可変性を考慮したシミュレーションのための合成デバイスインスタンスの生成が可能になる。
R2 は 0.92 であり、FeFET 電流の変動を捉える精度が高い。
このフレームワークは、FeFETの完全な確率的振る舞いをモデル化するためのスケーラブルでデータ駆動のソリューションを提供し、将来のコンパクトモデル開発と回路シミュレーションの統合のための強力な基盤を提供する。
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