論文の概要: Looking down the rabbit hole: Towards quantum optimal estimation of surface roughness
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2603.16418v1
- Date: Tue, 17 Mar 2026 11:53:18 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-03-18 17:42:07.256348
- Title: Looking down the rabbit hole: Towards quantum optimal estimation of surface roughness
- Title(参考訳): ウサギの穴を見下ろす:表面粗さの量子的最適推定に向けて
- Authors: Quentin Muller, Tommaso Tufarelli, Madalin Guta, Katherine Inzani, Samanta Piano, Gerardo Adesso,
- Abstract要約: 本研究は, 軸方向分布の第1モーメント(平均高さ)と標準偏差(粗さ)が一定に制限されていることを示す。
空間モードデマルチプレクシングに基づく量子インスピレーションイメージング技術は、軸方向標準偏差を推定するのに最適であることが証明された。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Surface roughness is an important quantity to many engineering and precision manufacturing disciplines. In this paper we investigate the problem of estimating the root-mean-square roughness of a sample by passive linear optical methods. By adopting quantum parameter estimation techniques, we determine the ultimate precision limits on roughness estimation. In particular, we show that the information on the first moment (mean height) and standard deviation (roughness) of the axial profile distribution of multiple incoherent point sources is bounded by a constant. While classical imaging techniques fail to achieve this bound, a quantum inspired imaging technique based on spatial mode demultiplexing is proven to be optimal for estimating the axial standard deviation. Combined with analogous recently investigated methods for estimating radial profiles, this can provide a powerful technique for measuring roughness of nearly smooth surface patches beyond the diffraction limit.
- Abstract(参考訳): 表面粗さは多くの工学と精密製造の分野において重要な量である。
本稿では, 受動線形光学法による試料の根平均2乗粗さの推定問題について検討する。
量子パラメータ推定手法を用いることで、粗さ推定における最終的な精度限界を決定する。
特に、複数の不整点源の軸方向分布の第一モーメント(平均高さ)と標準偏差(粗さ)の情報は定数で有界であることを示す。
古典的イメージング技術はこの境界を達成できないが、空間モードデマルチプレクシングに基づく量子インスピレーションイメージング技術は、軸方向標準偏差を推定するのに最適であることが証明されている。
放射状プロファイルを推定する類似手法と組み合わせることで、回折限界を超えるほぼ滑らかな表面パッチの粗さを測定する強力な技術を提供することができる。
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