論文の概要: IoT-Enhanced CNN-Based Labelled Crack Detection for Additive Manufacturing Image Annotation in Industry 4.0
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2604.22857v1
- Date: Wed, 22 Apr 2026 14:09:50 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-04-28 17:12:07.000955
- Title: IoT-Enhanced CNN-Based Labelled Crack Detection for Additive Manufacturing Image Annotation in Industry 4.0
- Title(参考訳): IoT強化CNNによる産業用画像アノテートのためのひび割れ検出4.0
- Authors: Mohsen Asghari Ilani, Yaser Mike Banad,
- Abstract要約: 本稿では、畳み込みニューラルネットワーク(CNN)を用いた付加製造(AM)表面の自動き裂検出のためのIoT強化ディープラーニングフレームワークを提案する。
リアルタイムデータ取得は、即時CNNベースの分析をサポートし、AM品質管理の精度と効率の両方を改善する。
精度は14,982枚で99.54%、精度は96%、リコールは98%、スコアは97%である。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.8594140167290097
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: This paper presents an IoT-enhanced deep learning framework for automated crack detection in Additive Manufacturing (AM) surfaces using convolutional neural networks (CNNs). By integrating IoT-enabled real-time monitoring, high-resolution imaging, and edge computing, the system enables continuous in-situ defect detection and classification. Real-time data acquisition supports immediate CNN-based analysis, improving both accuracy and efficiency in AM quality control. The framework supports supervised and semi-supervised learning, enabling robust performance on large, sparsely annotated datasets. Using LabelImg for annotation and OpenCV for preprocessing, the system achieves 99.54% accuracy on 14,982 images, with 96% precision, 98% recall, and a 97% F1-score. Dataset balancing and augmentation significantly improve generalization, increasing accuracy from 32% to 99%. Beyond detection, the framework establishes a linkage between AM process parameters, defect formation, and surface topology, supporting predictive analytics and defect mitigation. Aligned with Industry 4.0, it incorporates Digital Twin (DT) technology for real-time process simulation, predictive maintenance, and adaptive control. Key contributions include an IoT-based monitoring system using edge devices (Raspberry Pi 4B), an optimized CNN with model quantization and batch processing reducing inference latency by 47%, and an MQTT-based low-latency data streaming system with 5G connectivity, lowering transmission overhead by 35%. DT integration further enables predictive defect analysis and dynamic adjustment of AM parameters. This work advances intelligent AM quality control by providing a scalable, high-accuracy, and low-latency framework. Future directions include multimodal data fusion, hybrid architectures, and enhanced Digital Twin simulations for AI-driven defect prevention.
- Abstract(参考訳): 本稿では,畳み込みニューラルネットワーク(CNN)を用いた付加製造(AM)表面の自動き裂検出のためのIoT強化ディープラーニングフレームワークを提案する。
IoT対応のリアルタイム監視、高解像度イメージング、エッジコンピューティングを統合することで、システムは継続的なインサイト欠陥検出と分類を可能にする。
リアルタイムデータ取得は、即時CNNベースの分析をサポートし、AM品質管理の精度と効率の両方を改善する。
このフレームワークは教師付きおよび半教師付き学習をサポートし、大小の注釈付きデータセット上で堅牢なパフォーマンスを実現する。
アノテーションにLabelImg、前処理にOpenCVを使用し、14,982枚の画像に対して99.54%の精度を実現し、96%の精度、98%のリコール、97%のF1スコアを記録した。
データセットのバランシングと拡張により、一般化が大幅に向上し、精度が32%から99%に向上した。
検出以外にも、フレームワークはAMプロセスパラメータ、欠陥生成、表面トポロジのリンクを確立し、予測分析と欠陥軽減をサポートする。
Industry 4.0と並行して、リアルタイムプロセスシミュレーション、予測保守、適応制御にDigital Twin(DT)技術が組み込まれている。
主なコントリビューションとしては、エッジデバイス(Raspberry Pi 4B)を使用したIoTベースの監視システム、モデル量子化とバッチ処理を備えた最適化されたCNNによる推論レイテンシの47%削減、5G接続を備えたMQTTベースの低レイテンシデータストリーミングシステム、トランスミッションオーバヘッドの35%削減などがある。
さらにDT統合により、予測欠陥解析とAMパラメータの動的調整が可能になる。
この作業は、スケーラブルで高精度で低レイテンシのフレームワークを提供することで、インテリジェントなAM品質管理を促進する。
今後の方向性としては、マルチモーダルデータ融合、ハイブリッドアーキテクチャ、AI駆動の欠陥防止のための強化されたDigital Twinシミュレーションなどがある。
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