論文の概要: Improving Combined Detection and Classification of TEM Defects via Mask-Conditioned Latent Diffusion Augmentation
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2606.02532v1
- Date: Mon, 01 Jun 2026 17:38:47 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-06-02 21:34:32.545135
- Title: Improving Combined Detection and Classification of TEM Defects via Mask-Conditioned Latent Diffusion Augmentation
- Title(参考訳): Mask-Conditioned Latent Diffusion AugmentationによるTEM欠陥の検出と分類の改善
- Authors: Ni Li, Nuohao Liu, Ryan Jacobs, Ajay Annamareddy, Maciej P. Polak, Kevin Field, Izabela Szlufarska, Dane Morgan,
- Abstract要約: マスク条件付き潜時拡散モデル(LDM)を用いた生成データ拡張手法を導入し,現実的なTEM画像を制御可能で自動ラベル付き欠陥マスクで合成する。
以上の結果から,F1スコアの高調波平均値が最大0.02向上し,モデル全体の性能が向上することが示唆された。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 2.471708266724695
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Analyzing microstructural defects in transmission electron microscopy (TEM) images, particularly in irradiated metal alloys, is often limited by the availability of high-quality, labeled data. To address this, we introduce a generative data augmentation approach using a mask-conditioned latent diffusion model (LDM) for synthesizing realistic TEM images with controllable, automatically labeled multi-class defect masks. Without requiring manual annotations for generation, our method enables the creation of synthetic image-mask pairs by sampling distributions learned from experimental masks. These generated data were used to augment small experimental datasets of varying sizes (10, 50, and 100 labeled experimental images) to train a Mask Regional Convolutional Neural Network (R-CNN) model for defect detection and classification. Our results show that generative augmentation yields small overall model performance improvements, with up to a 0.02 gain in the harmonic mean of detection and classification F1 scores. However, we also find that the relative contributions to detection and classification improvement depend on the specific train/test data split. These findings highlight the potential of targeted generative models to enhance deep learning performance in data-scarce microscopy-based image quantification tasks.
- Abstract(参考訳): 透過電子顕微鏡(TEM)画像、特に照射された金属合金における微細構造欠陥の解析は、高品質なラベル付きデータの利用によって制限されることが多い。
マスク条件付き潜時拡散モデル(LDM)を用いて,実写TEM画像を制御可能・自動ラベル付きマルチクラス欠陥マスクで合成する生成データ拡張手法を提案する。
提案手法は,手動のアノテーションを生成のために必要とせず,実験マスクから学習した分布をサンプリングすることにより,合成画像マスクペアの作成を可能にする。
これらの生成されたデータは、さまざまなサイズ(10, 50, 100ラベルのラベル付き実験画像)の小さな実験データセットを拡張して、欠陥検出と分類のためにMask Regional Convolutional Neural Network(R-CNN)モデルをトレーニングするために使用された。
以上の結果から,F1スコアの高調波平均値が0.02まで向上し,モデル全体の性能が向上することが示唆された。
しかし、検出と分類の改善に対する相対的な寄与は、特定の列車/テストデータの分割に依存していることも判明した。
これらの知見は,データスカース顕微鏡による画像定量化作業におけるディープラーニング性能向上を目的とした生成モデルの可能性を明らかにするものである。
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