論文の概要: Mølmer-Sørensen gates in trapped-ions chains in the presence of correlated noise
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2606.23951v1
- Date: Mon, 22 Jun 2026 21:22:55 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-06-24 22:16:48.692894
- Title: Mølmer-Sørensen gates in trapped-ions chains in the presence of correlated noise
- Title（参考訳）: 相関雑音の存在下でのトラップイオン鎖中のMølmer-Sørensenゲート
- Authors: D. V. Donchenko, E. A. Anikin, O. Lakhmanskaya, K. Lakhmanskiy,
- Abstract要約: 我々は、捕捉イオン鎖に基づく量子ビットレジスタにおけるMlmer-Srensenゲートに対する相関レーザ周波数ノイズの影響を解析する。
その結果、中周波レーザーノイズの影響は、鎖内のイオンの位置に大きく依存していることが判明した。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We analyze the impact of correlated laser frequency noise on Mølmer-Sørensen gates in qubit registers based on trapped-ion chains. Using perturbation theory, we calculate gate fidelities in the presence of noise with arbitrary power spectral density for different chain lengths and ion positions in the chain. With our approach, we account for simultaneous excitation of multiple phonon modes during gate operation. We find out that the impact of medium-frequency laser noise depends considerably on the positions of the ions in the chain. In contrast, low-frequency noise has similar effect for different chain lengths and ion positions.
- Abstract（参考訳）: 我々は、捕捉イオン鎖に基づく量子ビットレジスタにおけるMølmer-Sørensenゲートに対する相関レーザ周波数ノイズの影響を解析する。
摂動理論を用いて、チェーン長とチェーン内のイオン位置の異なる任意のパワースペクトル密度を持つノイズの存在下でのゲート忠実度を算出する。
本手法ではゲート操作中に複数のフォノンモードが同時に励起される。
その結果、中周波レーザーノイズの影響は、鎖内のイオンの位置に大きく依存していることが判明した。
対照的に、低周波ノイズは、異なる鎖長とイオン位置に対して同様の効果を持つ。
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