論文の概要: Exact logical error rates for magic state cultivation
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2609.18922v2
- Date: Thu, 24 Sep 2026 17:11:46 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-09-25 21:10:09.258182
- Title: Exact logical error rates for magic state cultivation
- Title(参考訳): マジックステート培養における厳密な論理的誤り率
- Abstract要約: 距離$d=3$と$d=5$のマジックステート培養回路の受け入れ率と論理誤差率を正確に計算する。
実際の$T$-gateは、サンプリングに使用される$S$-gateプロキシではなく、研究されている。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: We compute exactly the acceptance and logical error rates for the distance $d=3$ and $d=5$ magic state cultivation circuits from Clifft [arXiv:2604.27058] and SOFT [arXiv:2512.23037] using Pauli propagation and binary tensor contraction. Actual $T$-gates are studied, not the $S$-gate proxy used for sampling. The calculation includes every fault order at several circuit-level noise strengths ($p$). We provide a series expansion form to the logical error rates, through order $(p/(1-p))^{10}$. The analytical results recover the numerical values from Clifft and SOFT at both $d=3$ and $d=5$ to within their sampling uncertainty. Then, we show that the $d=3$ and $d=5$ circuits actually have fault distances of $d_{\text{fault}}=2$ and $d_{\text{fault}}=3$ respectively, explaining the similar distance degrading effects from the companion code of [Quantum 10, 2134 (2026)].
- Abstract(参考訳): Clifft [arXiv:2604.27058] と SOFT [arXiv:2512.23037] から, パウリ伝搬とバイナリテンソル収縮を用いて, 距離$d=3$および$d=5$マジック状態培養回路の受け入れと論理誤差率を正確に計算する。
実際の$T$-gateは、サンプリングに使用される$S$-gateプロキシではなく、研究されている。
この計算は、複数の回路レベルのノイズ強度(p$)で全ての故障順序を含む。
次数$(p/(1-p))^{10}$ を通じて、論理誤差率に対する級数展開形式を提供する。
解析結果は, Clifft と SOFT の数値を, サンプリングの不確実性の範囲内で$d=3$ および $d=5$ で回収する。
次に、$d=3$と$d=5$の回路は、それぞれ$d_{\text{fault}}=2$と$d_{\text{fault}}=3$のフォールト距離を持ち、[Quantum 10, 2134 (2026)]のコンパニオンコードからの同様の距離劣化効果を説明する。
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