論文の概要: Detection loophole in measurement-device-independent entanglement witness

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2004.09101v1
• Date: Mon, 20 Apr 2020 07:34:44 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-05-22 23:04:39.884216
• Title: Detection loophole in measurement-device-independent entanglement witness
• Title（参考訳）: 測定装置非依存の絡み合い目撃者における検出抜け穴
• Authors: Kornikar Sen, Chirag Srivastava, Shiladitya Mal, Aditi Sen De, Ujjwal Sen
• Abstract要約: 測定デバイスに依存しない絡み合いの証人の概念は、最初の問題を取り除くために導入された。 測定デバイスに依存しない絡み合い目撃者の文脈で「検出ループホール」を解析する。 測定デバイスに依存しない絡み付き目撃者シナリオにおいて, 絡み付き目撃者関数の上限値を得る。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: There always exists an entanglement witness for every entangled quantum state. Negativity of the expectation value of an entanglement witness operator guarantees entanglement of the corresponding state, given that the measurement devices involved are perfect, i.e., the performed measurements actually constitute the witness operator for the state under consideration. In a realistic situation, there are two possible ways of measurements to drive the process away from the ideal one. Firstly, wrong measurements may be performed, and secondly, while the measurement operators are implemented correctly, the detection process is noisy. Entanglement witnesses are prone to both of these imperfections. The concept of measurement-device-independent entanglement witnesses was introduced to remove the first problem. We analyze the "detection loophole" in the context of measurement-device-independent entanglement witnesses, which deal with the second problem of imprecise measurements. We obtain an upper bound on the entanglement witness function in the measurement-device-independent entanglement witness scenario, below which entanglement is guaranteed for given non-ideal detector efficiencies, that can involve both lost events and dark counts.
• Abstract（参考訳）: すべての絡み合った量子状態に対して常に絡み合う証人が存在する。 絡み合う証人オペレータの期待値の否定性は、関連する測定装置が完全であること、すなわち、実際に実施された測定が、検討中の状態の証人オペレータを構成することを考慮し、対応する状態の絡み合いを保証する。 現実的な状況では、プロセスを理想的なものから遠ざけるための2つの測定方法があります。 第1に、間違った測定を行い、第2に、測定演算子が正しく実装されている間、検出プロセスはノイズが多い。 絡み合いの目撃者はどちらも不完全である。 測定装置非依存の絡み合い証人の概念は、最初の問題を取り除くために導入された。 測定装置非依存の絡み合い証人の文脈における「検出抜け穴」の分析を行い,不正確な測定の2つ目の問題について考察した。 測定装置非依存の絡み合い目撃者シナリオにおいて、絡み合い目撃者関数の上界を求め、その下に、失われた事象と暗数の両方を伴なう非理想的検出器効率の絡み合いを保証した。

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