論文の概要: Partial randomized benchmarking
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2111.04192v2
- Date: Tue, 21 Jun 2022 12:47:26 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-03-08 22:25:49.140266
- Title: Partial randomized benchmarking
- Title(参考訳): 部分ランダム化ベンチマーク
- Authors: Kirill Dubovitskii and Yuriy Makhlin
- Abstract要約: 量子論理ゲートのランダム化ベンチマークでは、部分的ツイリングはより単純な実装、より良いスケーリング、より高い精度と信頼性に利用できる。
このような単純化された部分的ツイリングを解析し、標準的なランダム化ベンチマークとは異なり、測定された忠実度は異なる減衰率の指数の線形結合であることを示した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: In randomized benchmarking of quantum logical gates, partial twirling can be
used for simpler implementation, better scaling, and higher accuracy and
reliability. For instance, for two-qubit gates, single-qubit twirling is easier
to realize than full averaging. We analyze such simplified, partial twirling
and demonstrate that, unlike for the standard randomized benchmarking, the
measured decay of fidelity is a linear combination of exponentials with
different decay rates (3 for two qubits and single-bit twirling). The evolution
with the sequence length is governed by an iteration matrix, whose spectrum
gives the decay rates. For generic two-qubit gates one slowest exponential
dominates and characterizes gate errors in three channels. Its decay rate is
close, but different from that in the standard randomized benchmarking, and we
find the leading correction. Using relations to the local invariants of
two-qubit gates we identify all exceptional gates with several slow
exponentials and analyze possibilities to extract their decay rates from the
measured curves.
- Abstract(参考訳): 量子論理ゲートのランダム化ベンチマークでは、より単純な実装、より優れたスケーリング、より高い精度と信頼性のために部分的twirlingが使用できる。
例えば、2キュービットゲートの場合、単一キュービットのツイリングは完全な平均化よりも容易に実現できる。
このような単純化された部分的な回転を分析し、標準のランダム化ベンチマークとは異なり、忠実度の測定された減衰は、異なる減衰率の指数関数の線形結合(3は2量子ビットと1ビットの回転)であることを示した。
シーケンス長を持つ進化は、スペクトルが減衰率を与える反復行列によって制御される。
一般的な2ビットゲートでは、最も遅い指数関数が支配され、3つのチャネルでゲートエラーを特徴づける。
その減衰率は近いが、標準のランダム化ベンチマークではそれとは異なる。
2量子ゲートの局所不変量との関係を用いて、いくつかの遅い指数関数を持つ全ての例外ゲートを同定し、測定された曲線から減衰率を抽出する可能性を分析する。
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