Fugu-MT 論文翻訳(概要): Certification of the maximally entangled state using non-projective measurements

論文の概要: Certification of the maximally entangled state using non-projective measurements

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2210.14099v2
Date: Mon, 5 Jun 2023 15:12:55 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-06-07 04:13:33.914911
Title: Certification of the maximally entangled state using non-projective measurements
Title（参考訳）: 非射影測定による最大絡み合い状態の証明
Authors: Shubhayan Sarkar
Abstract要約: 本研究では,一方のデバイス非依存のPOV(1)シナリオを考察し,非射影計測を用いた2ビットの最大絡み合い状態の自己検査手法を提案する。ホワイトノイズに対する我々の計画の堅牢性も分析する。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: In recent times, device-independent certification of quantum states has been one of the intensively studied areas in quantum information. However, all such schemes utilise projective measurements which are practically difficult to generate. In this work, we consider the one-sided device-independent (1SDI) scenario, and propose a self-testing scheme for the two-qubit maximally entangled state using non-projective measurements, in particular, three three-outcome extremal POVM's. We also analyse the robustness of our scheme against white noise.
Abstract（参考訳）: 近年、量子状態のデバイスに依存しない認証は、量子情報において集中的に研究されている分野の1つである。しかし、これら全てのスキームは、実質的に生成が難しい射影計測を利用する。本研究では,一方のデバイス非依存 (1SDI) シナリオを考察し,非射影測定,特に3つの極端POVMを用いた2ビットの最大絡み合い状態の自己検証手法を提案する。ホワイトノイズに対する我々の計画の堅牢性も分析する。

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