論文の概要: Self-testing of any pure entangled state with minimal number of
measurements and optimal randomness certification in one-sided
device-independent scenario
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2110.15176v3
- Date: Wed, 23 Mar 2022 15:09:19 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-03-10 00:56:40.379710
- Title: Self-testing of any pure entangled state with minimal number of
measurements and optimal randomness certification in one-sided
device-independent scenario
- Title（参考訳）: デバイス非依存シナリオにおける最小計測数と最適ランダム性認定による純エンタングル状態の自己テスト
- Authors: Shubhayan Sarkar, Jakub J. Borka{\l}a, Chellasamy Jebarathinam,
Owidiusz Makuta, Debashis Saha, and Remigiusz Augusiak
- Abstract要約: 量子系の証明とその性質は、集中研究の分野となっている。
本研究では,各パーティ毎に2つの測定値が最小限に抑えられた単一系統のステアリング不等式を用いて,両パーティの絡み合った状態に対する自己検定手法を提案する。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Certification of quantum systems and their properties has become a field of
intensive studies. Here, taking advantage of the one-sided device-independent
scenario (known also as quantum steering scenario), we propose a self-testing
scheme for all bipartite entangled states using a single family of steering
inequalities with the minimal number of two measurements per party. Building on
this scheme we then show how to certify all rank-one extremal measurements,
including non-projective $d^2$-outcome measurements, which in turn can be used
for certification of the maximal amount of randomness from every entangled
bipartite state of local dimension $d$, that is, $2\log_2d$ bits. Finally, in a
particular case of $d=3$, we extend our self-testing results to the fully
device-independent setting.
- Abstract（参考訳）: 量子系の証明とその性質は、集中研究の分野となっている。
ここでは、一方のデバイス非依存のシナリオ(量子ステアリングシナリオとしても知られる)を生かし、一方のパーティ当たりの2つの測定値の最小数で、単一のファミリーのステアリング不等式を用いて、全ての二部共役状態に対する自己検査手法を提案する。
このスキームに基づいて、我々は、非射影的な$d^2$-outcome測定を含むすべてのランク 1 の極値測定を認証する方法を示します。
最後に、$d=3$の特定の場合には、テスト結果を完全にデバイスに依存しない設定に拡張します。
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