Fugu-MT 論文翻訳(概要): Randomized Benchmarking using Non-Destructive Readout in a 2D Atom Array

論文の概要: Randomized Benchmarking using Non-Destructive Readout in a 2D Atom Array

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2301.10510v1
Date: Wed, 25 Jan 2023 10:37:36 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-01-26 15:29:24.776353
Title: Randomized Benchmarking using Non-Destructive Readout in a 2D Atom Array
Title（参考訳）: 非破壊的読み出しによる2次元原子配列のランダム化ベンチマーク
Authors: B. Nikolov, E. Diamond-Hitchcock, J. Bass, N. L. R. Spong and J. D. Pritchard
Abstract要約: 従来の破壊的読み出しを用いた225個の原子上での8(2)Times10-5$の単一量子ビットゲート誤差を実証した。さらに,49個の原子上での低損失,非破壊,状態選択的な読み出しによる測定誤差の抑制を示す。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: Neutral atoms are a promising platform for scalable quantum computing, however prior demonstration of high fidelity gates or low-loss readout methods have employed restricted numbers of qubits. Using randomized benchmarking of microwave-driven single-qubit gates, we demonstrate single qubit gate errors of $8(2)\times10^{-5}$ on 225 atoms using conventional, destructive readout. This exceeds the threshold for fault-tolerance. We further demonstrate suppression of measurement errors via low-loss, non-destructive and state-selective readout on 49 atoms. This enables post-selection for atom loss, which is a primary source of errors in present setups.
Abstract（参考訳）: 中性原子はスケーラブルな量子コンピューティングの有望なプラットフォームであるが、以前は高忠実性ゲートや低損失読み出し手法の実証には制限された数の量子ビットが使用されている。マイクロ波駆動単一量子ビットゲートのランダム化ベンチマークを用いて、225原子の8(2)\times10^{-5}$の単一量子ビットゲートエラーを従来の破壊的読み出しを用いて実証する。これはフォールトトレランスのしきい値を超える。さらに,49原子の低損失・非破壊・状態選択的読み出しによる測定誤差の抑制を実証する。これにより、現在の設定におけるエラーの主な原因であるatomロスのポスト選択が可能になる。

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