Fugu-MT 論文翻訳(概要): On the Influence of the Laser Illumination on the Logic Cells Current Consumption

論文の概要: On the Influence of the Laser Illumination on the Logic Cells Current Consumption

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2407.06758v1
Date: Tue, 9 Jul 2024 11:08:23 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2024-07-10 18:17:01.395717
Title: On the Influence of the Laser Illumination on the Logic Cells Current Consumption
Title（参考訳）: レーザー照射が論理セル電流消費に及ぼす影響について
Authors: Dmytro Petryk, Zoya Dyka, Milos Krstic, Jan Bělohoubek, Petr Fišer, František Steiner, Tomáš Blecha, Peter Langendörfer, Ievgen Kabin,
Abstract要約: CMOS静的パワーにおけるデータ依存を利用した脆弱性はすでに実証されている。光変調静的パワーを利用した類似の脆弱性はシミュレーションによって実証された。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
Abstract: Physical side-channel attacks represent a great challenge for today's chip design. Although attacks on CMOS dynamic power represent a class of state-of-the-art attacks, many other effects potentially affect the security of CMOS chips analogously by affecting mostly static behaviour of the chip, including aging, ionizing radiation, or non-ionizing illumination of the CMOS. Vulnerabilities exploiting data dependency in CMOS static power were already demonstrated in practice and the analogous vulnerability exploiting light-modulated static power was demonstrated by simulation. This work confirms the CMOS vulnerability related to the light-modulated data-dependent static power experimentally and discusses future work.
Abstract（参考訳）: 物理的なサイドチャネル攻撃は、今日のチップ設計にとって大きな課題です。 CMOSダイナミックパワーに対する攻撃は最先端の攻撃のクラスを表しているが、他の多くの効果はCMOSチップのセキュリティに類似して、老朽化、電離放射線、非電離照明などのチップの静的な動作に影響を与える可能性がある。 CMOS静的パワーにおけるデータ依存性を利用した脆弱性はすでに実証されており、光変調静的パワーを利用した類似の脆弱性はシミュレーションによって実証された。本研究は,光変調データ依存静的パワーに関連するCMOS脆弱性を実験的に確認し,今後の課題について考察する。

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