論文の概要: Measurement-induced entanglement in noisy 2D random Clifford circuits
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2510.12743v1
- Date: Tue, 14 Oct 2025 17:21:55 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-10-15 19:02:32.415858
- Title: Measurement-induced entanglement in noisy 2D random Clifford circuits
- Title(参考訳): 雑音性2次元ランダムクリフォード回路における測定誘起絡み合い
- Authors: Zhi-Yuan Wei, Jon Nelson, Joel Rajakumar, Esther Cruz, Alexey V. Gorshkov, Michael J. Gullans, Daniel Malz,
- Abstract要約: ノイズ2次元ランダムクリフォード回路のカラム・バイ・カラムサンプリングにより生じる測定誘起絡みについて検討した。
一定の局所雑音は、長距離、体積法測定による絡み合いを損なうことが判明した。
テンソルネットワークに基づくアルゴリズムは雑音の多い2次元ランダムクリフォード回路から効率的にサンプリングできると推測する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 1.915364393561725
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We study measurement-induced entanglement generated by column-by-column sampling of noisy 2D random Clifford circuits of size $N$ and depth $T$. Focusing on the operator entanglement $S_{\rm op}$ of the sampling-induced boundary state, first, we reproduce in the noiseless limit a finite-depth transition from area- to volume-law scaling. With on-site probablistic trace noise at any constant rate $p>0$, the maximal $S_{\rm op}$ attained along the sampling trajectory obeys an area law in the boundary length and scales approximately linearly with $T/p$. By analyzing the spatial distribution of stabilizer generators, we observe exponential localization of stabilizer generators; this both accounts for the scaling of the maximal $S_{\rm op}$ and implies an exponential decay of conditional mutual information across buffered tripartitions, which we also confirm numerically. Together, these results indicate that constant local noise destroys long-range, volume-law measurement-induced entanglement in 2D random Clifford circuits. Finally, based on the observed scaling, we conjecture that a tensor-network-based algorithm can efficiently sample from noisy 2D random Clifford circuits (i) at sub-logarithmic depths $T = o(\log N)$ for any constant noise rate $p = \Omega(1)$, and (ii) at constant depths $T = O(1)$ for noise rates $p = \Omega(\log^{-1}N)$.
- Abstract(参考訳): ノイズの多い2次元ランダム・クリフォード回路のカラム・バイ・カラムサンプリングにより生じる測定誘起絡み合いをN$およびDepth $T$で検討した。
まず、サンプリング誘起境界状態の演算子エンタングルメント$S_{\rm op}$に着目して、ノイズレス極限において、領域-体積-法則スケーリングの有限深さ遷移を再現する。
任意の定レート$p>0$のオンサイト確率的トレースノイズでは、サンプリング軌道に沿って到達した最大$S_{\rm op}$は境界長の領域法則に従い、ほぼ直線的に$T/p$でスケールする。
安定化器発生器の空間分布を解析することにより、安定化器発生器の指数的局所化を観測し、どちらも最大$S_{\rm op}$のスケーリングを考慮し、バッファリングされた三分割にまたがる条件付き相互情報の指数的減衰を示唆し、数値的に確認する。
これらの結果から, 局所雑音が2次元ランダムクリフォード回路の長距離, ボリュームロー測定による絡み合いを損なうことが示唆された。
最後に、観測されたスケーリングに基づいて、テンソルネットワークに基づくアルゴリズムがノイズの多い2次元ランダムクリフォード回路から効率的にサンプリングできると推測する。
(i) a sub-logarithmic depths $T = o(\log N)$ for any constant noise rate $p = \Omega(1)$, and
(ii) 一定の深さで、ノイズレート$p = \Omega(\log^{-1}N)$に対して$T = O(1)$。
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