論文の概要: Efficiency-Resolved Recovery Dynamics of an Free-Running InGaAs/InP Single Photon Avalanche Detector Operated in Gated Mode
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2609.17694v1
- Date: Tue, 15 Sep 2026 18:05:31 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-09-20 08:55:53.490829
- Title: Efficiency-Resolved Recovery Dynamics of an Free-Running InGaAs/InP Single Photon Avalanche Detector Operated in Gated Mode
- Title(参考訳): ゲートモードで動作するInGaAs/InP単光子雪崩検出器の効率改善
- Abstract要約: ゲートモード単光子アバランシェ検出器における検出効率は、ゲートエッジ毎に徐々に回復する。
自由動作InGaAs/InP検出器のゲート回復時間定数を1550nmで抽出する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Detection efficiency in gated-mode single-photon avalanche detectors recovers gradually after each gate edge, limiting attainable count rates, yet quantitative recovery models exist only for free-running operation. We extract the gated recovery time constant of a free-running InGaAs/InP detector at 1550 nm by sweeping the gate frequency from 100 kHz to 1 MHz and globally fitting count rates across four dead times, requiring neither a pulsed laser nor a time-to-digital converter. The recovery time decreases linearly with detection efficiency, from 301 to 161 ns between 10 % and 25 %, at 9.3 ns per percentage point. We further resolve a periodic count-rate modulation consistent with bias-dependent capacitive gate feedthrough.
- Abstract(参考訳): ゲートモード単光子アバランシェ検出器の検出効率は各ゲートエッジの後に徐々に回復し、カウントレートが制限されるが、定量回復モデルはフリーラン操作にのみ存在する。
我々は、100kHzから1MHzまでのゲート周波数を網羅し、パルスレーザーもデジタル変換器も必要とせず、4つのデッドタイムでグローバルにカウントレートを適合させることにより、1550nmのフリーランInGaAs/InP検出器のゲート回復時間定数を抽出する。
回収時間は検出効率が301から161 nsから10%から25%に減少し、パーセンテージあたり9.3 nsとなる。
さらに、バイアス依存性の容量ゲートフィードスルーと整合した周期的カウントレート変調を解く。
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