論文の概要: Experimental demonstration of one-sided device-independent self-testing
of any pure two-qubit entangled state
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2001.10207v1
- Date: Tue, 28 Jan 2020 08:32:57 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-06-05 09:13:47.453434
- Title: Experimental demonstration of one-sided device-independent self-testing
of any pure two-qubit entangled state
- Title（参考訳）: 純二量子エンタングル状態の一方的デバイス非依存自己テスト実験
- Authors: Zhihao Bian, A. S. Majumdar, C. Jebaratnam, Kunkun Wang, Lei Xiao,
Xiang Zhan, Yongsheng Zhang, Peng Xue
- Abstract要約: 我々は, きめ細かいステアリングの不等式に基づいて, 純絡み合った2量子状態の片側デバイス非依存自己検定を行う。
微粒なステアリングの不等式の最大違反は、純粋な2ビットの絡み合った状態をすべて証明する、ある種のステアブルな相関を見ることができる。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 6.490670148109479
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We demonstrate one-sided device-independent self-testing of any pure
entangled two-qubit state based on a fine-grained steering inequality. The
maximum violation of a fine-grained steering inequality can be used to witness
certain steerable correlations, which certify all pure two-qubit entangled
states. Our experimental results identify which particular pure two-qubit
entangled state has been self-tested and which measurement operators are used
on the untrusted side. Furthermore, we analytically derive the robustness bound
of our protocol, enabling our subsequent experimental verification of
robustness through state tomography. Finally, we ensure that the requisite
no-signalling constraints are maintained in the experiment.
- Abstract（参考訳）: 我々は, きめ細かいステアリングの不等式に基づいて, 純絡み合った2量子状態の片側デバイス非依存自己検定を行う。
微粒なステアリングの不等式の最大違反は、純粋な2ビットの絡み合った状態をすべて証明する、ある種のステアブルな相関を見ることができる。
実験では,どの純二量子エンタングル状態が自己試験され,どの測定演算子が信頼できない側に使用されているかを明らかにする。
さらに,本プロトコルのロバスト性境界を解析的に導出し,状態トモグラフィによるロバスト性の実験的検証を可能にした。
最後に,所要の署名制約が実験中に維持されることを保証する。
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