論文の概要: Robust Semi-Device Independent Certification of All Pure Bipartite Maximally Entangled States via Quantum Steering

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2007.04020v4
• Date: Thu, 19 Aug 2021 06:20:52 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-05-10 23:39:50.544991
• Title: Robust Semi-Device Independent Certification of All Pure Bipartite Maximally Entangled States via Quantum Steering
• Title（参考訳）: 量子ステアリングによる全純二部体最大絡み合い状態のロバスト半デバイス独立認証
• Authors: Harshank Shrotriya, Kishor Bharti, and Leong-Chuan Kwek
• Abstract要約: 量子ステアリングによる半デバイス独立シナリオにおいて、任意のバイパーティライト純絡状態が証明可能であることを示す。 我々は、アセンブラージュに基づく堅牢な状態認証の概念を用いて、任意の局所次元の純粋に極大に絡み合った状態の場合の認定結果のバウンダリを提供する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: The idea of self-testing is to render guarantees concerning the inner workings of a device based on the measurement statistics. It is one of the most formidable quantum certification and benchmarking schemes. Recently it was shown by Coladangelo et. al. (Nat Commun 8, 15485 (2017)) that all pure bipartite entangled states can be self tested in the device independent scenario by employing subspace methods introduced by Yang et. al. (Phys. Rev. A 87, 050102(R)). Here, we have adapted their method to show that any bipartite pure entangled state can be certified in the semi-device independent scenario through Quantum Steering. Analogous to the tilted CHSH inequality, we use a steering inequality called Tilted Steering Inequality for certifying any pure two-qubit entangled state. Further, we use this inequality to certify any bipartite pure entangled state by certifying two-dimensional sub-spaces of the qudit state by observing the structure of the set of assemblages obtained on the trusted side after measurements are made on the un-trusted side. As a feature of quantum state certification via steering, we use the notion of Assemblage based robust state certification to provide robustness bounds for the certification result in the case of pure maximally entangled states of any local dimension.
• Abstract（参考訳）: 自己テストの考え方は、測定統計に基づいてデバイスの内部動作に関する保証を作ることである。 これは最も強い量子認証とベンチマークスキームの1つである。 最近ではcolladangeloらによって紹介された。 al. (Nat Commun 8, 15485 (2017)) では、すべての純粋な二部交絡状態は、ヤンらによって導入された部分空間法を用いて、デバイス独立シナリオで自己テストできる。 と(Phys)。 A87, 050102(R))。 ここでは、これらの手法を応用し、量子ステアリングによる半デバイス独立シナリオにおいて、任意の両部純絡状態が証明可能であることを示す。 傾いたCHSHの不等式とは対照的に、純粋な2ビットの絡み合った状態の証明にTilted Steering Inequalityというステアリング不等式を用いる。 また、この不等式を用いて、信頼できない側に測定を行った後、信頼された側で得られる集合体の構造を観察することにより、qudit状態の二次元部分空間を認証することにより、任意の二成分純エンタングル状態の証明を行う。 ステアリングによる量子状態認証の特徴として、任意の局所次元の純粋に絡み合った状態の場合、認証結果に対する堅牢性境界を提供するために、組み立てベースのロバスト状態認証の概念を用いる。

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