論文の概要: Systematic errors in direct state measurements with quantum controlled measurements

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2002.07328v1
• Date: Tue, 18 Feb 2020 01:40:30 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-06-03 07:26:18.510405
• Title: Systematic errors in direct state measurements with quantum controlled measurements
• Title（参考訳）: 量子制御による直接状態測定における系統誤差
• Authors: Le Bin Ho
• Abstract要約: 量子状態を直接測定するために、量子制御測定フレームワークを使用します。 本研究では,系統的な誤差を数値的に調査し,信頼性領域を評価し,実験騒音の影響について検討する。 我々の分析は、直接量子状態トモグラフィーに重要な応用がある。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Von Neumann measurement framework describes a dynamic interaction between a target system and a probe. In contrast, a quantum controlled measurement framework uses a qubit probe to control the actions of different operators on the target system, and convenient for establishing universal quantum computation. In this work, we use a quantum controlled measurement framework for measuring quantum states directly. We introduce two types of the quantum controlled measurement framework and investigate the systematic error (the bias between the true value and the estimated values) that caused by these types. We numerically investigate the systematic errors, evaluate the confidence region, and investigate the effect of experimental noise that arises from the imperfect detection. Our analysis has important applications in direct quantum state tomography.
• Abstract（参考訳）: Von Neumann測定フレームワークは、ターゲットシステムとプローブの間の動的相互作用を記述する。 対照的に、量子制御測定フレームワークは、量子ビットプローブを使用してターゲットシステム上の異なる演算子の動作を制御し、普遍的な量子計算を確立するのに便利である。 本研究では,量子状態を直接測定するための量子制御計測フレームワークを用いる。 量子制御測定フレームワークの2つのタイプを紹介し,これらのタイプに起因する系統的誤差(真の値と推定値のバイアス)について検討する。 系統的誤差を数値的に検討し,信頼度領域を評価し,不完全な検出から生じる実験ノイズの影響について検討した。 我々の分析は直接量子状態トモグラフィーに重要な応用がある。

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