論文の概要: Tilted Hardy paradoxes for device-independent randomness extraction
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2205.02751v3
- Date: Mon, 11 Sep 2023 15:47:12 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-09-12 23:30:40.113606
- Title: Tilted Hardy paradoxes for device-independent randomness extraction
- Title（参考訳）: デバイス非依存ランダムネス抽出のための傾斜ハーディパラドックス
- Authors: Shuai Zhao, Ravishankar Ramanathan, Yuan Liu, and Pawe{\l} Horodecki
- Abstract要約: 傾いたハーディパラドックスの族を導入し、一般の純2量子交絡状態の自己検証を可能にする。
また、DDIランダムネス抽出の候補として、局所次元4, 8$の最大絡み合った状態に対するハーディ検定の族を導入する。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 5.802194744651422
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
- Abstract: The device-independent paradigm has had spectacular successes in randomness
generation, key distribution and self-testing, however most of these results
have been obtained under the assumption that parties hold trusted and private
random seeds. In efforts to relax the assumption of measurement independence,
Hardy's non-locality tests have been proposed as ideal candidates. In this
paper, we introduce a family of tilted Hardy paradoxes that allow to self-test
general pure two-qubit entangled states, as well as certify up to $1$ bit of
local randomness. We then use these tilted Hardy tests to obtain an improvement
in the generation rate in the state-of-the-art randomness amplification
protocols for Santha-Vazirani (SV) sources with arbitrarily limited measurement
independence. Our result shows that device-independent randomness amplification
is possible for arbitrarily biased SV sources and from almost separable states.
Finally, we introduce a family of Hardy tests for maximally entangled states of
local dimension $4, 8$ as the potential candidates for DI randomness extraction
to certify up to the maximum possible $2 \log d$ bits of global randomness.
- Abstract（参考訳）: デバイス非依存のパラダイムはランダム性の生成、鍵分布、自己テストにおいて目覚ましい成功を収めてきたが、これらの結果の多くは信頼とプライベートなランダムな種を持つと仮定して得られたものである。
測定独立性の仮定を緩和するために、ハーディの非局所性試験が理想的な候補として提案されている。
本稿では,完全2量子の絡み合った状態の自己テストと,最大1ビットの局所ランダム性証明を可能にする,傾きのあるハーディパラドックスのファミリを紹介する。
次に、傾斜したハーディ試験を用いて、任意の測定独立性を持つサンサ・ヴァジラニ(SV)源に対する最先端のランダム性増幅プロトコルの生成率を改善する。
デバイス非依存のランダム性増幅は、任意バイアスのSVソースとほぼ分離可能な状態から可能であることを示す。
最後に、diランダムネス抽出の潜在的な候補として、局所次元の最大絡み合い状態に対するハーディテストのファミリーを導入し、最大2 \log d$bit of global randomnessの最大値を証明する。
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