論文の概要: Benchmarking quantum error-correcting codes on quasi-linear and
central-spin processors
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2207.05568v2
- Date: Wed, 13 Jul 2022 12:02:21 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-02-05 09:37:55.326057
- Title: Benchmarking quantum error-correcting codes on quasi-linear and
central-spin processors
- Title(参考訳): 準線形および中心スピンプロセッサ上の量子誤り訂正符号のベンチマーク
- Authors: Regina Finsterhoelzl and Guido Burkard
- Abstract要約: ダイヤモンド中の窒素空孔中心からなるトランスモン量子ビットとスピントロニック量子レジスタに基づく超伝導プロセッサ上での小さな誤り訂正符号の性能を評価する。
マルチキュービット制御操作を含むコードの場合、カラーセンターの中央スピン接続はエラー率を低くする。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We evaluate the performance of small error-correcting codes, which we tailor
to hardware platforms of very different connectivity and coherence: on a
superconducting processor based on transmon qubits and a spintronic quantum
register consisting of a nitrogen-vacancy center in diamond. Taking the
hardware-specific errors and connectivity into account, we investigate the
dependence of the resulting logical error rate on the platform features such as
the native gates, native connectivity, gate times, and coherence times. Using a
standard error model parameterized for the given hardware, we simulate the
performance and benchmark these predictions with experimental results when
running the code on the superconducting quantum device. The results indicate
that for small codes, the quasi-linear layout of the superconducting device is
advantageous. Yet, for codes involving multi-qubit controlled operations, the
central-spin connectivity of the color centers enables lower error rates.
- Abstract(参考訳): 我々は,トランスモン量子ビットをベースとした超伝導プロセッサと,ダイヤモンド中の窒素空孔中心からなるスピントロニック量子レジスタにおいて,接続性とコヒーレンスが異なるハードウェアプラットフォームに適した小さな誤り訂正符号の性能を評価する。
ハードウェア固有のエラーと接続性を考慮して,ネイティブゲート,ネイティブ接続性,ゲート時間,コヒーレンス時間といったプラットフォーム機能に対する論理エラー率の依存性について検討した。
所定のハードウェアに対してパラメータ化された標準エラーモデルを用いて,超伝導量子デバイス上でコードを実行する際の性能をシミュレーションし,実験結果とベンチマークを行った。
その結果、小さな符号では超伝導デバイスの準線形配置が有利であることが示されている。
しかし、マルチキュービット制御操作を含むコードの場合、カラーセンターの中央スピン接続はエラー率を低くする。
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