論文の概要: Sequential unsharp measurement of photon polarization

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2209.09044v1
• Date: Mon, 19 Sep 2022 14:34:35 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-01-26 02:14:17.916786
• Title: Sequential unsharp measurement of photon polarization
• Title（参考訳）: 光子偏波の逐次非シャープ測定
• Authors: Peter Adam and Lajos Di\'osi
• Abstract要約: 我々は、光子偏光の逐次的アンシャープ測定を記述するための一般的なフォーマリズムを開発する。 このモデルが提案されたスキームであることを示す。 ポストセレクションを用いたアンシャープ偏光測定における異常平均値と、再セレクションによる光子偏光の逐次アンシャープ測定における異常2次相関関数を導出する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: We propose a general experimental scheme based on binary trees of partially polarizing beam splitters (PPBSs) for realizing sequential unsharp measurements of photon polarization. The sharpnesses and the bases of the particular photon polarization measurements can be chosen arbitrarily by using corresponding PPBSs and phase plates in the setup. In the limit of low sharpnesses the scheme can realize sequential weak measurements, too. We develop a general formalism for describing sequential unsharp measurements of photon polarization in which the particular unsharp measurements are characterized by appropriate measurement operators. We show that a straightforward experimental realization of this model is the proposed scheme. In this formalism the output polarization states after the sequential measurement and any correlation functions characterizing the measurement results can be easily calculated. Our model can be used for analyzing the consequences of applying postselection and reselection in the measurement. We derive the anomalous mean value for an unsharp polarization measurement with postselection and the anomalous second-order correlation function for the sequential unsharp measurement of photon polarization with reselection. We show that these anomalies can be easily measured using the proposed scheme.
• Abstract（参考訳）: 本稿では,光子偏波の逐次非シャープ測定を実現するため,部分偏光ビームスプリッタ(ppbss)の2値木に基づく一般実験手法を提案する。 設定中の対応するppbsと位相板を用いて、特定の光子偏光測定のシャープネスと塩基を任意に選択することができる。 低シャープネスの限界では、このスキームも逐次弱測定を実現することができる。 我々は、特定の非シャープな測定が適切な測定演算子によって特徴づけられる光子偏極の逐次的非シャープな測定を記述するための一般的な形式論を考案する。 このモデルの直接的な実験的な実現が提案手法であることを示す。 この形式では、逐次測定後の出力分極状態と、測定結果を特徴付ける任意の相関関数を容易に計算することができる。 本モデルは, ポストセレクションと再セレクションを適用した結果の分析に利用できる。 再選択による光子偏極の逐次非シャープ測定における非シャープ偏光測定の異常平均値と異常2次相関関数を導出する。 これらの異常は,提案手法を用いて容易に測定できることを示す。

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