Fugu-MT 論文翻訳(概要): In-situ micromotion compensation of trapped ions by Rabi oscillation and direct scanning of dc voltages

論文の概要: In-situ micromotion compensation of trapped ions by Rabi oscillation and direct scanning of dc voltages

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2306.05837v1
Date: Fri, 9 Jun 2023 12:09:53 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-06-12 13:41:43.084744
Title: In-situ micromotion compensation of trapped ions by Rabi oscillation and direct scanning of dc voltages
Title（参考訳）: Rabi発振による捕捉イオンのその場微小運動補償と直流電圧の直接走査
Authors: Woojun Lee, Daun Chung, Jiyong Kang, Honggi Jeon, Changhyun Jung, Dong-Il "Dan" Cho, Taehyun Kim
Abstract要約: マイクロモーションは、捕捉されたイオンの正確な量子ビット制御に有害である。本稿では、Rabi発振と直流電圧の走査を併用して、捕捉されたイオンのマイクロモーションを簡易に測定し、最小化する手法を提案する。
参考スコア（独自算出の注目度）: 3.255716166359319
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: Micromotion is detrimental to accurate qubit control of trapped ions, thus measuring and minimizing it is crucial. In this paper, we present a simple method to measure and minimize micromotion of trapped ions by Rabi oscillation combined with direct scanning of dc voltages. The approach utilizes the qubit control scheme itself, and eliminates the need to install additional experimental setups, or compromise the trapping stability by adjusting the intensity or frequency of the trapping lasers or fields. Accordingly, the method enables in-situ measurement of micromotion during qubit controls of the ions, while achieving a comparable level of sensitivity to commonly used techniques.
Abstract（参考訳）: マイクロモーションは、捕捉されたイオンの正確な量子ビット制御に有害であるため、測定と最小化が重要である。本稿では,直流電圧の直接走査とラビ振動による捕捉イオンの微小運動を簡易に測定し,最小化する手法を提案する。このアプローチはqubit制御スキーム自体を利用し、追加の実験的なセットアップを必要とせず、またトラップレーザーやフィールドの強度や周波数を調整することでトラップ安定性を損なう。これにより、一般的に用いられる技術と同等の感度を達成しつつ、イオンのクビット制御中のマイクロモーションをその場で測定することができる。

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