論文の概要: BayesFLo: Bayesian fault localization of complex software systems
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2403.08079v1
- Date: Tue, 12 Mar 2024 21:12:53 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-03-14 16:22:33.046038
- Title: BayesFLo: Bayesian fault localization of complex software systems
- Title(参考訳): BayesFLo: 複雑なソフトウェアシステムのベイズ的フォールトローカライゼーション
- Authors: Yi Ji, Simon Mak, Ryan Lekivetz, Joseph Morgan
- Abstract要約: ソフトウェアテストの主要なステップは、障害ローカライゼーションである。これは、テストデータを使用して、さらなる診断のために障害誘発の組み合わせをピンポイントする。
既存の断層定位法は決定論的であり、潜在的な根本原因の確率的リスクを評価するための原則的アプローチを提供していない。
本稿では,潜在的根本原因の組み合わせに対して柔軟なベイズモデルを利用するベイズFLoと呼ばれる新しいベイズ断層定位フレームワークを提案する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 4.217640663997775
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Software testing is essential for the reliable development of complex
software systems. A key step in software testing is fault localization, which
uses test data to pinpoint failure-inducing combinations for further diagnosis.
Existing fault localization methods, however, are largely deterministic, and
thus do not provide a principled approach for assessing probabilistic risk of
potential root causes, or for integrating domain and/or structural knowledge
from test engineers. To address this, we propose a novel Bayesian fault
localization framework called BayesFLo, which leverages a flexible Bayesian
model on potential root cause combinations. A key feature of BayesFLo is its
integration of the principles of combination hierarchy and heredity, which
capture the structured nature of failure-inducing combinations. A critical
challenge, however, is the sheer number of potential root cause scenarios to
consider, which renders the computation of posterior root cause probabilities
infeasible even for small software systems. We thus develop new algorithms for
efficient computation of such probabilities, leveraging recent tools from
integer programming and graph representations. We then demonstrate the
effectiveness of BayesFLo over state-of-the-art fault localization methods, in
a suite of numerical experiments and in two motivating case studies on the JMP
XGBoost interface.
- Abstract(参考訳): ソフトウェアテストは複雑なソフトウェアシステムの信頼性の高い開発に不可欠である。
ソフトウェアテストにおける重要なステップは、障害ローカライゼーションである。これは、テストデータを使用して、さらなる診断のために障害誘発の組み合わせをピンポイントする。
しかし、既存のフォールトローカライゼーション手法は決定論的であり、潜在的な根本原因の確率的リスクを評価するための原則的アプローチや、テストエンジニアによるドメインおよび/または構造的知識を統合するための原則的アプローチを提供していない。
そこで本研究では,潜在的根本原因の組み合わせに対して柔軟なベイズモデルを利用するベイズFLoという,新しいベイズ断層局在化フレームワークを提案する。
BayesFLoの重要な特徴は、結合階層と遺伝の原則の統合である。
しかし、重要な課題は、考えられる根本原因シナリオの多さであり、小さなソフトウェアシステムであっても、後部根本原因確率の計算は不可能である。
そこで我々は、整数プログラミングやグラフ表現の最近のツールを活用して、そのような確率の効率的な計算のための新しいアルゴリズムを開発した。
次に, 現状の断層定位法に対するBayesFLoの有効性を, 数値実験と, JMP XGBoost インタフェースの2つの動機づけケーススタディで実証した。
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