論文の概要: A Physical Layer Analysis of Entropy in Delay-Based PUFs Implemented on FPGAs
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2409.00825v1
- Date: Sun, 1 Sep 2024 19:46:03 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-09-06 08:51:29.972282
- Title: A Physical Layer Analysis of Entropy in Delay-Based PUFs Implemented on FPGAs
- Title(参考訳): FPGA上に実装した遅延型PUFにおけるエントロピーの物理層解析
- Authors: Jim Plusquellic, Jennifer Howard, Ross MacKinnon, Kristianna Hoffman, Eirini Eleni Tsiropoulou, Calvin Chan,
- Abstract要約: 物理的不閉関数(PUF)は、エントロピーの源としてデバイス内で発生する信号の変動を利用する。
オンチップインスツルメンテーションはPUFアーキテクチャによってこれらのバリエーションを計測・デジタル化するために利用される。
本稿では,FPGAの基本成分に付随する遅延変動を推定するために,統計的平均化と差分法を適用した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 3.1545591628790572
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
- Abstract: Physical Unclonable Functions (PUFs) leverage signal variations that occur within the device as a source of entropy. On-chip instrumentation is utilized by some PUF architectures to measure and digitize these variations, which are then processed into bitstrings and secret keys for use in security functions such as authentication and encryption. In many cases, the variations in the measured signals are introduced by a sequence of components in the circuit structure defined by the PUF architecture. In particular, the Hardware-Embedded deLay PUF (HELP) measures delay variations that occur in combinational logic paths on Field Programmable Gate Arrays (FPGAs), which are composed of a set of interconnecting wires (nodes) and look-up tables (LUTs). Previous investigations of variations in these path delays show that it is possible to derive high quality bitstrings, i.e., those which exhibit high levels of uniqueness and randomness across the device population. However, the underlying source and level of variations associated with the constituent components of the paths remain unknown. In this paper, we apply statistical averaging and differencing techniques to derive estimates for the delay variation associated with an FPGA's basic components, namely LUTs and nodes, as a means of fully characterizing the PUF's source of entropy. The analysis is carried out on a set of 50,015 path delay measurements collected from a set of 20 Xilinx Zynq 7020 SoC-class FPGAs, on which 25 identical instances of a functional unit are instantiated, for a total of 500 instances.
- Abstract(参考訳): 物理的不閉関数(PUF)は、エントロピーの源としてデバイス内で発生する信号の変動を利用する。
オンチップインスツルメンテーションはPUFアーキテクチャによってこれらのバリエーションの測定とデジタル化に利用され、認証や暗号化などのセキュリティ機能で使用されるビットストリングや秘密鍵に処理される。
多くの場合、計測信号のばらつきはPUFアーキテクチャで定義された回路構造における一連の成分によって引き起こされる。
特に、Hardware-Embeded deLay PUF (HELP) は、相互接続するワイヤ(ノード)とルックアップテーブル(LUT)からなるフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)上の組合せ論理経路で発生する遅延変動を測定する。
これらの経路遅延の変動に関する以前の調査では、高品質なビットストリング、すなわちデバイス個体群全体で高いレベルの特異性とランダム性を示すビットストリングを導出することが可能であることが示されている。
しかし、経路の構成成分に関連する基礎となるソースと変動のレベルは未だ不明である。
本稿では,PUFのエントロピー源を完全に特徴付ける手段として,FPGAの基本成分,すなわちLUTとノードに関連する遅延変動の推定値を求めるために,統計的平均化と差分法を適用した。
この分析は、20個のXilinx Zynq 7020 SoCクラスFPGAから収集された50,015個のパス遅延測定に基づいて行われ、その上で、関数ユニットの25個の同一インスタンスを、合計500個のインスタンスに対してインスタンス化する。
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