論文の概要: Gate Fidelity and Gate Driven Dephasing via Time-Dependent Bloch-Redfield Master Equation

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2410.06292v1
• Date: Tue, 8 Oct 2024 18:50:20 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2024-11-01 10:11:01.942271
• Title: Gate Fidelity and Gate Driven Dephasing via Time-Dependent Bloch-Redfield Master Equation
• Title（参考訳）: 時間依存Bloch-Redfieldマスター方程式によるゲート忠実度とゲート駆動型デフォーカス
• Authors: Sirui Chen, Dragomir Davidović,
• Abstract要約: この研究は、高速な外部駆動を持つ線形高調波発振器の浴槽における駆動量子ビットの進化を調べる。 浴槽との相互作用がゲート忠実度に及ぼす影響について検討した。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.6036360355596617
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Understanding how the microscopic properties of open quantum systems affect gate functionality is essential for developing high-quality quantum gates. This work examines driven qubit evolution in a bath of linear harmonic oscillators with a fast external drive. The dynamically prepared state technique and the time-dependent Bloch-Redfield master equation allow for accurate state coherence calculations. This technique eliminates reaction delays for relaxation dynamics and corrects inaccurate dephasing rates caused by factorized initial states in traditional master equations. Furthermore, the interaction with the bath is investigated for its effect on gate fidelity. As a function of the qubit rotation angle, the gate fidelity is minimal for the {\pi}-flip and partially recovers with the 2{\pi}-flip.
• Abstract（参考訳）: 開量子系の微視的な性質がゲート機能にどのように影響するかを理解することは、高品質な量子ゲートの開発に不可欠である。 この研究は、高速な外部駆動を持つ線形高調波発振器の浴槽における駆動量子ビットの進化を調べる。 動的に準備された状態技術と時間依存のブロッホ・レッドフィールド・マスター方程式は正確な状態コヒーレンス計算を可能にする。 この手法は緩和力学に対する反応遅延を排除し、従来のマスター方程式における因子化初期状態による不正確な劣化率を補正する。 さらに,浴槽との相互作用がゲート忠実度に及ぼす影響について検討した。 キュービット回転角の関数として、ゲートの忠実度は {\pi}-flip に対して最小限であり、2{\pi}-flip で部分的に回復する。

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