論文の概要: Measure and Forget Dynamics in Random Circuits

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2511.21866v1
• Date: Wed, 26 Nov 2025 19:44:44 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-12-01 19:47:55.271918
• Title: Measure and Forget Dynamics in Random Circuits
• Title（参考訳）: ランダム回路における計測・予測ダイナミクス
• Authors: Yucheng He, Todd A. Brun,
• Abstract要約: 有意な」測定は、フォールトトレラント量子コンピューティングへの応用と、本質的には絡み合いとエントロピーの広さの研究の両方に興味深い。 本稿では,測定結果を部分的に忘れた場合のランダムクリフォード回路における測定誘起相転移(MIPT)について検討する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 2.3419031955865512
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: "Forgetful" measurements-physically similar to dephasing-are of interest both for applications to fault-tolerant quantum computing and fundamentally, in studying how entanglement and entropy spread. This paper investigates measurement-induced phase transitions (MIPT) in random Clifford circuits when measurement outcomes are partially forgotten. Our findings reveal a local thermalization rate that remains constant regardless of system size. We also numerically calculate the decay behavior at the turning points in the entropy diagram. We observe a counterintuitive phenomenon where the entropy reaches a threshold and stops evolving, even as the system size increases. This challenges an intuition, drawn from previous studies of noisy random circuits, that noise will cause the thermalization of the whole system. Additionally, we identify the disappearance of the purification transition and discuss the implications of these entanglement dynamics for quantum error-correction codes.
• Abstract（参考訳）: フォールトトレラント量子コンピューティングへの応用と、本質的にはエンタングルメントとエントロピーがいかに広まるかの研究の両方において、"忘れられない"測定は物理的にデファシングに類似している。 本稿では,測定結果を部分的に忘れた場合のランダムクリフォード回路における測定誘起相転移(MIPT)について検討する。 その結果, システムサイズに関わらず, 局所的な熱化速度は一定であることがわかった。 また,エントロピー図の回転点における減衰挙動を数値計算する。 システムサイズが増大しても,エントロピーがしきい値に達し,進化が止まる反直観現象を観測する。 このことは、ノイズがシステム全体の熱化を引き起こすという従来のノイズランダム回路の研究から引き出された直感に挑戦する。 さらに、精製遷移の消失を識別し、量子誤り訂正符号に対するこれらの絡み合いダイナミクスの影響について議論する。

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