論文の概要: Automated reduction of fault-tolerant circuits
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2610.09749v1
- Date: Wed, 07 Oct 2026 09:38:37 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-10-08 21:58:22.835432
- Title: Automated reduction of fault-tolerant circuits
- Title(参考訳): 耐故障性回路の自動化
- Abstract要約: 本稿では,故障等価リライトによる耐故障回路の低減手法を提案する。
この検索は、ベルペアの削減を公開するための非還元可能なルールを適用している。
全てのサーチトランジションはフォールト等価性を保持するので、結果として得られる回路は入力回路のフォールトトレランス特性を継承する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 7.828323408077456
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: We present an automated method for reducing fault-tolerant circuits through fault-equivalent rewrites. Starting from a known fault-tolerant circuit, the search applies non-reducing enabling rules to expose Bell-pair reductions, each of which removes an ancilla preparation and a CNOT gate. Because every search transition preserves fault equivalence, the resulting circuits inherit the fault-tolerance properties of the input circuit. Candidate circuits are evaluated using circuit-level Monte Carlo simulation. For Shor-style syndrome extraction with the $[[7,1,3]]$ code, our method reduces one syndrome-measurement round from 30 to 18 ancilla preparations and from 54 to 42 CNOT gates. At a physical two-qubit error rate of $p = 10^{-3}$, the optimized circuit lowers the logical error rate by approximately 21% for both logical basis states. The reduction ranges from 13% to 23% over a range of $p$ spanning two orders of magnitude. We also apply the method to Steane-based dynamic syndrome extraction constructed from Goto's verified logical-$\lvert 0 \rangle$ preparation, in which the verification qubit serves as a flag. The search selects a circuit using four ancillas and 14 CNOT gates, matching the resource counts of the previous design but with an improved CNOT depth. Under depolarizing idle noise at $3p/10$ the selected circuit lowers the logical error rate by approximately 15% for both logical basis states, and by approximately $10%$ at $p/10$. These results demonstrate that automated fault-equivalent rewriting can identify circuits with lower resource costs or improved logical performance without separately verifying the fault tolerance of every candidate.
- Abstract(参考訳): 本稿では,故障等価リライトによる耐故障回路の低減手法を提案する。
既知のフォールトトレラント回路から始め、検索はベルペアの削減を公開するための非低減可能なルールを適用し、それぞれがアンシラ準備とCNOTゲートを除去する。
全てのサーチトランジションはフォールト等価性を保持するので、結果として得られる回路は入力回路のフォールトトレランス特性を継承する。
回路レベルモンテカルロシミュレーションを用いて候補回路の評価を行う。
また,Shor-style syndrome extract with the $[7,1,3]$ codeでは,30から18のアンシラ,54から42のCNOTゲートから1つの症候群測定ラウンドを短縮する。
物理2量子誤り率$p = 10^{-3}$では、最適化回路は両方の論理基底状態に対して論理誤差率を約21%下げる。
減額は13%から23%の範囲で、2桁の2桁にまたがる$p$の範囲に及んでいる。
また,検証キュービットがフラグとして機能するGotoの論理式$$\lvert 0 \rangle$準備から構築したSteaneベースの動的シンドローム抽出にも適用する。
サーチは、4つのアンシラと14のCNOTゲートを使用して回路を選択し、以前の設計のリソース数と一致するが、改良されたCNOT深さを持つ。
アイドルノイズを3p/10$で除極すると、選択された回路は、両方の論理基底状態に対して論理誤差率を約15%下げ、約10%を$p/10$に下げる。
これらの結果から, 自動故障等価書き換えは, 各候補の故障耐性を個別に検証することなく, リソースコストの低い回路を識別し, 論理性能を向上できることを示した。
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