論文の概要: Testing incompatibility of quantum devices with few states

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2105.08320v3
• Date: Wed, 1 Dec 2021 05:52:29 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-03-30 20:07:09.737590
• Title: Testing incompatibility of quantum devices with few states
• Title（参考訳）: 状態の少ない量子デバイスの非互換性検証
• Authors: Teiko Heinosaari, Takayuki Miyadera, Ryo Takakura
• Abstract要約: 不整合性の2つの整数値量子化を示す。 1つは、テスト状態が慎重に選択された場合、非互換性を検出するために最小限に必要となる状態の数を定量化し、もう1つは、ランダムに選択された場合、どれだけの状態を使用する必要があるかを定量化する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: When observations must come from incompatible devices and cannot be produced by compatible devices? This question motivates two integer valued quantifications of incompatibility, called incompatibility dimension and compatibility dimension. The first one quantifies how many states are minimally needed to detect incompatibility if the test states are chosen carefully, whereas the second one quantifies how many states one may have to use if they are randomly chosen. With concrete examples we show that these quantities have unexpected behaviour with respect to noise.
• Abstract（参考訳）: 互換性のないデバイスから観測が必要であり、互換デバイスでは生成できない場合。 この問題は不整合次元と整合次元と呼ばれる2つの整数値量子化を動機付けている。 1つ目は、テスト状態が慎重に選択された場合、不適合性を検出するのに最小に必要な状態の数を定量化し、もう1つは、ランダムに選択された場合、使用する状態の数を定量化する。 具体的な例では、これらの量はノイズに対して予期せぬ振る舞いを示す。

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