Fugu-MT 論文翻訳(概要): Compatibility of projective measurements subject to white noise and loss

論文の概要: Compatibility of projective measurements subject to white noise and loss

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2304.08548v1
Date: Mon, 17 Apr 2023 18:34:16 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-04-19 16:51:14.302560
Title: Compatibility of projective measurements subject to white noise and loss
Title（参考訳）: 白色雑音と損失を考慮した投影計測の適合性
Authors: Pavel Sekatski
Abstract要約: ホワイトノイズと損失を受ける全ての投影計測の不整合性について検討した。我々は、この測定セットが可視性の観点から互換性を持つために必要な、十分な条件を導出する。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: It is well known that when two or more quantum measurements suffer from imperfections they may lose their incompatibility. For a quantum system of finite dimension d we study the incompatibility of all projective measurements subjected to white noise and loss. We derive a necessary and sufficient conditions for this set of measurements to becomes compatible in terms of their visibility $p$ and efficiency $\eta$.
Abstract（参考訳）: 2つ以上の量子測定が不完全さに苦しむと、それらの非互換性を失うことが知られている。有限次元 d の量子系に対して、ホワイトノイズと損失を受ける全ての射影測定の不整合性を研究する。我々は、この一連の測定が可視性$p$と効率$\eta$という観点で互換性を持つために必要な条件を導出する。

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