論文の概要: Mermin and Svetlichny inequalities for non-projective measurement
observables
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2203.07103v3
- Date: Mon, 14 Nov 2022 14:16:13 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-02-22 03:38:06.869405
- Title: Mermin and Svetlichny inequalities for non-projective measurement
observables
- Title(参考訳): 非射影測度観測値に対するメルミンとスヴェトリニュの不等式
- Authors: Mohd Asad Siddiqui and Sk Sazim
- Abstract要約: ある種の測定強度に対して、メルミンとスヴェトリニュの不等式は、偏りのある測定観測値によってのみ破ることができる。
6つの可能なメルミンとスヴェトリニュの不等式のいずれかに違反するために必要な十分な基準も導出される。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: The necessary and sufficient criteria for violating the Mermin and Svetlichny
inequalities by arbitrary three-qubit states are presented. Several attempts
have been made, earlier, to find such criteria, however, those extant criteria
are neither tight for most of the instances, nor fully general. We generalize
the existing criteria for Mermin and Svetlichny inequalities which are valid
for the local projective measurement observables as well as for the arbitrary
ones. We obtain the maximal achievable bounds of the Mermin and Svetlichny
operators with unbiased measurement observables for arbitrary three-qubit
states and with arbitrary observables for three-qubit states having maximally
mixed marginals. We find that for certain ranges of measurement strengths, it
is possible to violate Mermin and Svetlichny inequalities only by biased
measurement observables. The necessary and sufficient criteria of violating any
one of the six possible Mermin and Svetlichny inequalities are also derived.
- Abstract(参考訳): 任意の3ビット状態によるメルミンとスヴェトリニュの不等式に違反するために必要な十分な基準を示す。
このような基準を見つけるためにいくつかの試みがなされたが、現存する基準はほとんどの例では厳密でも、完全には一般的でもない。
我々は、局所射影計測可観測性だけでなく任意のものに対しても有効であるmerminとsvetlichnyの不等式に対する既存の基準を一般化する。
任意の3量子ビット状態に対する偏りのない測定可観測性を持つメルミンおよびスヴェトリヒニー作用素の最大可測境界と、最大に混合した辺数を持つ3量子状態に対する任意の可観測性が得られる。
測定強度の一定範囲では、偏りのある測定可観測性によってのみマーミンやスヴェトリヒニーの不等式を破ることができる。
可能な6つのメルミンとスヴェトリクニーの不等式のいずれかに違反するために必要な十分な基準も導かれる。
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