論文の概要: Josephson Field Effect Transistors with InAs on Insulator and High Permittivity Gate Dielectrics
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2412.16221v2
- Date: Mon, 12 May 2025 13:17:48 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-05-13 14:13:12.707566
- Title: Josephson Field Effect Transistors with InAs on Insulator and High Permittivity Gate Dielectrics
- Title(参考訳): 絶縁体および高誘電率ゲート誘電体にInAsを印加したジョセフソン電界効果トランジスタ
- Authors: Alessandro Paghi, Laura Borgongino, Sebastiano Battisti, Simone Tortorella, Giacomo Trupiano, Giorgio De Simoni, Elia Strambini, Lucia Sorba, Francesco Giazotto,
- Abstract要約: InAs on Insulator (InAsOI) は、最近、JJとJoFETのハイブリッド半導体超伝導接合を開発するための有望なプラットフォームとして実証されている。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 33.7054351451505
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: InAs on Insulator (InAsOI) has been recently demonstrated as a promising platform to develop hybrid semiconducting-superconducting Josephson Junctions (JJs) and Josephson Field Effect Transistors (JoFETs). The InAsOI consists of an InAs epilayer grown onto a cryogenic-electrically-insulating InAlAs metamorphic buffer, which allows the electrical decoupling of surface-exposed adjacent devices together with a high critical current density integration. The miniaturization of Si microchips has progressed significantly due to the integration of high permittivity (high-k) gate insulators, allowing an increased gate coupling with the transistor channel with consequent reduced gate operating voltages and leakages. As well as for Si-based FETs, integrating high-k gate insulators with JoFETs promises similar advantages in superconducting electronics. Here, we investigate the gate-tunable electrical properties of InAsOI-based JoFETs featuring different high-k gate insulators, namely, HfO2 and Al2O3. We found that both the ungated and gate-tunable electrical properties of the JoFETs are strongly dependent on the insulator chosen. With both dielectrics, the JoFETs can entirely suppress the switching current and increase the normal state resistance by 10-20 times using negative gate voltages. The HfO2-JoFETs exhibit improved gate-tunable electrical performance compared to those achieved with Al2O3-JoFETs, which is related to the higher permittivity of the insulator. Gate-dependent electrical properties of InAsOI-based JoFETs were evaluated in the temperature range from 50 mK to 1 K. Moreover, under the influence of an out-of-plane magnetic field, JoFETs exhibited an unconventional Fraunhofer diffraction pattern, from which an edge-peaked supercurrent density distribution was calculated.
- Abstract(参考訳): InAs on Insulator (InAsOI) は、JJ(Josephson Junctions)とJoFET(Josephson Field Effect Transistors)のハイブリッド半超電導接合を開発するための有望なプラットフォームとして最近実証されている。
InAsOIは、低温電気絶縁InAlAs変成バッファ上に成長したInAsエピレイヤーで構成されており、これは、表面暴露された隣接デバイスと高臨界電流密度積分の電気的疎結合を可能にする。
Siマイクロチップの小型化は、高誘電率(高k)ゲート絶縁体の統合により著しく進展し、トランジスタチャネルとのゲート結合が増大し、ゲート動作電圧とリークが減少する。
SiベースのFETと同様に、高温ゲート絶縁体とJoFETを統合することで、超伝導エレクトロニクスでも同様の利点が期待できる。
本稿では,InAsOI系JoFETのゲート可変電気特性,すなわちHfO2とAl2O3の異なる高Kゲート絶縁体について検討する。
その結果、JoFETの無ゲートおよびゲート可変電気特性は、選択した絶縁体に強く依存していることが判明した。
両誘電体により、JoFETはスイッチング電流を完全に抑制し、負のゲート電圧を用いて通常の状態抵抗を10〜20倍にすることができる。
HfO2-JoFETは、絶縁体の高い誘電率に関連するAl2O3-JoFETよりも優れたゲート可変電気性能を示す。
InAsOI系JoFETのゲート依存性の電気的特性を50mKから1Kの範囲で評価した。
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