Fugu-MT 論文翻訳(概要): Complex Frequency Fingerprint

論文の概要: Complex Frequency Fingerprint

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2411.12577v1
Date: Tue, 19 Nov 2024 15:43:03 GMT
ステータス: 翻訳完了
システム内更新日: 2024-11-20 13:35:21.648237
Title: Complex Frequency Fingerprint
Title（参考訳）: 複素周波数フィンガープリント
Authors: Juntao Huang, Kun Ding, Jiangping Hu, Zhesen Yang,
Abstract要約: 本稿では, 複合周波数指紋 (CFF) を用いて, 複素周波数グリーン関数, $G(omegainmathbbC)$ を駆動散逸系で検出する手法を提案する。 CFFを利用することで、状態(DOS)と局所DOS(LDOS)の複素周波数密度を測定し、非エルミート系の特性に関するユニークな洞察を与えることができる。
参考スコア（独自算出の注目度）: 4.067170813849863
License:
Abstract: In this work, we present a novel method called the complex frequency fingerprint (CFF) to detect the complex frequency Green's function, $G(\omega\in\mathbb{C})$, in a driven-dissipative system. By utilizing the CFF, we can measure the complex frequency density of states (DOS) and local DOS (LDOS), providing unique insights into the characterization of non-Hermitian systems. By applying our method to systems exhibiting the non-Hermitian skin effect (NHSE), we demonstrate how to use our theory to detect both the non-Hermitian eigenvalues and eigenstates. This offers a distinctive and reliable approach to identifying the presence or absence of NHSE in experimental settings.
Abstract（参考訳）: 本研究では,複素周波数指紋(CFF)と呼ばれる,複素周波数グリーン関数($G(\omega\in\mathbb{C})$)を駆動散逸系で検出する新しい手法を提案する。 CFFを利用することで、状態(DOS)と局所DOS(LDOS)の複素周波数密度を測定し、非エルミート系の特性に関するユニークな洞察を与えることができる。本手法を非エルミート皮膚効果(NHSE)を示すシステムに適用することにより,非エルミート固有値と固有状態の両方を検出する方法を示す。これは、実験環境でのNHSEの存在や欠如を識別するための、独特で信頼性の高いアプローチを提供する。

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